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| 仕事内容 |
・評価解析、不良解析、量産試験用等のテストプログラム開発
・量産試験立ち上げ等に要するテストプログラムチューニング |
| 採用対象者 |
上記業務の経験者
※ 特にFLASH、SDRAM、DDR SDRAMの評価経験者、又これらの積層デバイスの評価経験者であれば特に優遇致します。 |
| 勤務地 |
福岡市早良区 |
| 会社紹介 |
LSI テストにおけるウェハ製造後の試作LSI の評価解析･不良解析から量産試験の受託業務やサポートを行う福岡の半導体業界期待のベンチャー企業
テスト仕様開発、テストプログラム開発、テスタ用ボード開発、異機種テスタ間のテストプログラムコンバージョン業務などありとあらゆるテスティングに関してソリューションを提供します。
平成１４年４月の起業以来順調にお客様からの信頼を得ており国内･外のお客様との取引きをしております。
【対象デバイス】
アナログ、メモリ、ロジックとこれらの組合せとなるSiP・SoC 、マイクロプロセッサーなどを得意分野として、今後はイメージセンサーやドライバーIC などにも取組んで参ります。
【対応できる試験範囲と業務範囲】
評価解析、プローブテスト、良品抜取試験、不良解析、キャラクタライゼーション、量 産試験、異機種テスタ間テストプログラムコンバート、テストに関する様々なコンサルティング業務。
【対応顧客】
大手半導体メーカ、ファブレスメーカ、テスタメーカ、ファウンダリ＆テストハウス、大学研究室等。
【対応テスタ】
テラダイン、アドバンテスト、横河電機、安藤電気、日立電子エンジニアリング、LTX 、IMS 等に対応。
現在、九州工業大学との共同研究開発でテスト用ツールの開発もしており、LSI テスト現場における問題解決型ツールの研究開発にも積極的に取組んでおります。 |
